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精準(zhǔn)通第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)先給大家講解一下EMC測(cè)試：
EMC測(cè)試也稱(chēng)為電磁兼容性測(cè)試（Electro Magnetic Compatibility）。是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo)之一，指的是是電磁場(chǎng)中電子產(chǎn)品的干擾尺寸（EMI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定。電磁兼容性測(cè)量由測(cè)試廠家及試驗(yàn)儀器組成。電磁兼容測(cè)試的目的是檢測(cè)電氣產(chǎn)品產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)和其他正常工作的電器產(chǎn)品的影響。定義是"設(shè)備和系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中正常工作并不構(gòu)成環(huán)境中不可接受的電磁干擾的能力"：第一，設(shè)備應(yīng)能在某個(gè)電磁環(huán)境中正常工作，即設(shè)備應(yīng)具有某種電磁抗擾度（EMS）；其次，設(shè)備本身產(chǎn)生的電磁干擾對(duì)其他電子產(chǎn)品（即電磁干擾（EMI））不會(huì)產(chǎn)生過(guò)大的影響。
EMC測(cè)試主要分類(lèi)
EMC包括電磁干擾（emi）和電磁耐受性（ems）。所謂電磁干擾（emi）是指機(jī)器在執(zhí)行其應(yīng)有功能的過(guò)程中，自身產(chǎn)生的不利于其它系統(tǒng)電磁環(huán)境的電磁噪聲。ems是指機(jī)器在執(zhí)行其應(yīng)有功能的過(guò)程中對(duì)周?chē)姶怒h(huán)境免疫的能力。
1.EMI--電磁干擾測(cè)試。本試驗(yàn)指在檢測(cè)電器產(chǎn)品產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)和其他正常運(yùn)行對(duì)電器產(chǎn)品的影響。
(EMI)電磁干擾測(cè)試的主要內(nèi)容是什么？
輻射發(fā)射(Radiated Emission)-輻射騷擾試驗(yàn)
傳導(dǎo)發(fā)射（Conducted Emission）-傳導(dǎo)騷擾試驗(yàn)
Harmonic－諧波電流騷擾測(cè)試
Flicker－電壓變化與閃爍測(cè)試
2.EMS（電磁抗擾度檢測(cè)）--本試驗(yàn)指在測(cè)試電器產(chǎn)品是否能在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，不受影響。
ems測(cè)試的主要內(nèi)容是什么？
ESD－靜電抗擾度測(cè)試
RS－射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試
CS-射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度檢測(cè)
DPI-電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度檢測(cè)
SURGE－浪涌（沖擊）抗擾度測(cè)試
EFT－電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
PFMF－工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
雜散定義：在標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)信號(hào)調(diào)制的時(shí)候在除載頻及正常調(diào)制和切換瞬態(tài)所引起的邊帶及鄰道以外，離散頻率上的輻射（既遠(yuǎn)端輻射）。雜散輻射按其來(lái)源可分為傳導(dǎo)輻射和輻射型兩類(lèi)。
傳導(dǎo)雜散：指在天線(xiàn)連接處的50歐姆負(fù)載上測(cè)量的任何離散信號(hào)的電平功率。
輻射雜散：由試驗(yàn)設(shè)備的機(jī)殼、結(jié)構(gòu)和互連電纜引起的雜散干擾。優(yōu)先選擇在電波暗室或戶(hù)外進(jìn)行測(cè)試條件。
